基 礎 実 験 (Ⅰ)
測定基板の周波数特性を測る。



スルー基板は、なぜ必要なのか。
  S21   log MAG  
   1 dB / DIV


チップ部品の測定基板を作るのに、スルー基板の中心を切断した。
この基板の、アイソレーションを測定。
 S21   log MAG   20 dB / DIV     S21   log MAG   
  2dB / DIV
  REF - 41.13dB


スルー導体の半分を剥がした基板は、どんな特性か。
　
  S21   log MAG
   10 dB / DIV   		  S22   log MAG   
  1 dB / DIV   


スルー基板の中心に、ＧＮＤを作り入出力パターンを分離すると
アイソレーションは良くなるか。
 S21   log MAG   
  10 dB / DIV   		  S21   log MAG   
  10 dB / DIV   
基板をビス止めした






基 礎 実 験 (Ⅱ)
受動部品の周波数特性を測る。



薄膜インダクタのアイソレーション測定
測定基板のアイソレーションがとれていないと、何を見ているか解りません。
 S21   log MAG   
  10 dB / DIV   


チップ･コンデンサの通過特性（シリーズ接続）測定
１００,０００ｐＦ　（ Ｆ１０４Ｚ／1608ｻｲｽﾞ　Murata ）
 S21   log MAG   
  1 dB / DIV   


チップ･コンデンサの通過特性（シリーズ接続）測定
測定
１,０００ｐＦ　（ Ｃ１０２Ｋ／1608ｻｲｽﾞ　MCHC102K Rohm ）
　
 S21   log MAG   
  1 dB / DIV   
　　

チップ･コンデンサの通過特性（シリーズ接続）測定
測定
１,０００ｐＦ　（ Ｂ１０２Ｋ／1608ｻｲｽﾞ　  GRM39B102K50   Murata ）
　
 S21   log MAG   
  1 dB / DIV   


測定
１００ｐF　（ＣＨ１０１Ｊ／1608ｻｲｽﾞ　  GRM39CH101J50   Murata ）
 S21   log MAG   
  2 dB / DIV   


測定
６８ｐＦ　（ Ａ６８０Ｊ／1608ｻｲｽﾞ　   MCH18A680J   Rohm ）
　　
 S21   log MAG   
  5 dB / DIV   


測定
１０ｐF　（Ａ１００Ｄ／1608ｻｲｽﾞ　   MCHAR100D   Rohm　）
　
 S21   log MAG   
  1 dB / DIV   		  S21   log MAG   
  5 dB / DIV